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Figure : Diffractomètre X’Pert PRO MPD.
Principe :
Les radiations X possèdent la propriété de traverser un matériau et d'être diffractées par les atomes. Le degré de diffraction dépend de l'énergie du rayonnement incident et de la distribution atomique.
Le diffractogramme constitue l'empreinte caractéristique de la structure cristalline de la substance analysée. Ce dernier est acquis avec un diffractomètre, constitué d'un tube de rayons X (fixe) et d'un système d’échantillon - détecteur (mobile) positionné sur une unité géométrique.
Le tube de rayons X émet un rayonnement vers un échantillon placé au centre du goniomètre, lequel diffracte une partie du rayonnement incident vers un système de détection. Cette technique est principalement utilisée pour les substances cristallines et plus spécialement minérales. Elle peut parfois être utilisée pour des produits organiques, néanmoins organisés spatialement, tels que les hauts polymères naturels et synthétiques, les cires cristallines, etc. Les diagrammes peuvent être obtenus directement à partir d'un fragment solide, ou de petites quantités de poudre. Cette méthode est particulièrement utile pour l'identification des phases formant un matériau solide cristallin par comparaison à des fiches étalons.
Domaines d’application :
- Recherche
- Industrie :
o Métallurgie /Sidérurgie,
o Ciment / céramique,
o Pharmaceutique,
o Environnement.
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